- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayage; applications des techniques de sonde à balayage, p.ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 60/24 - Microscopie à forces atomiques AFM [Atomic Force Microscopy] ou appareils à cet effet, p.ex. sondes AFM
Détention brevets de la classe G01Q 60/24
Brevets de cette classe: 321
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Bruker Nano, Inc. | 334 |
27 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 36809 |
10 |
| The Regents of the University of California | 18943 |
8 |
| Nederlandse Organisatie voor Toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO | 2362 |
8 |
| Olympus Corporation | 13667 |
6 |
| Board of Regents, The University of Texas System | 5370 |
5 |
| UT-Battelle, LLC | 1333 |
5 |
| Veeco Instruments Inc. | 332 |
5 |
| International Business Machines Corporation | 60644 |
4 |
| Shimadzu Corporation | 5791 |
4 |
| Carl Zeiss SMT GmbH | 2646 |
4 |
| A.L.M. Holding Company | 82 |
4 |
| Ergon Asphalt & Emulsions, Inc. | 108 |
4 |
| Korea Research Institute of Standards and Science | 639 |
4 |
| National University Corporation Kanazawa University | 243 |
4 |
| Oxford Instruments Asylum Research, Inc. | 34 |
4 |
| Saudi Arabian Oil Company | 11322 |
4 |
| Quantum Silicon Inc. | 24 |
4 |
| Molecular Vista, Inc. | 12 |
4 |
| Hitachi, Ltd. | 16452 |
3 |
| Autres propriétaires | 200 |